利用亚象素匹配提高其精度，并获得一个连续的三维边缘；仅针对物体的边缘特征进行匹配，从而提高了三维信息获取的速度和鲁棒性。5研究了三维特征指导下的快速高分辨率测量。针对RST传感器获取的高分辨率三维信息是限制在与扫描平面垂直的方向上，提出了将三维轮廓投影到扫描平面上进行表面分块处理和特征提取的新方法；使用该方法进行了三维框架的分割；提出了二维边缘驱动的和三维分块表面驱动的两种测量路径规划的方法；最后将高分辨率距离数据与三维边缘融合，提高了RST传感器的测量效率，同时可以获得自然二次曲面的参数表达实现了RST位移传感器后，通过对传感器结构和光路的观察和分析，我们认为在传感器内部和附近，还有足够的空间可以实现个集成的视觉系统。视觉系统的设计和安置首先要考虑到现有的用于RST的光学元件和光路.图2一9给出了RST传感器中空间分布的情况是成像镜头.为了成像于RST系统的图像传感器上，只能在图2一9中所示的l，2和3区域中布置成像镜头。在反射徽光的小反射镜与CMOS传感器之间(图2一9中的1区域)布置成像镜头是首先的选择。因为在这里安装的成像镜头其景深完全可以段盖整个侧t范围低功耗测试-数控滚圆机电动滚圆机滚弧机价格低张家港倒角机多少钱，因而不需要任何自动对焦的过程.在这里安装成像镜头，其放大率大约为l/3。但由于RST光学系随着超大规模集成电路(VLSI)制造技术的发展，愈来愈高的集成度使得测试时的功耗成为集成电路设计与测试中必须考虑的一个重要因素。一般来说，VLSI测试时的功耗比其正常运行时的高得多，这导致电路测试中产生可靠性降低、验证难度增加等问题，本文有张家港市泰宇机械有限公司全自动滚圆机采集网络整理 http://www.gunyuanji.com  甚至造成芯片损坏。因此，低功耗测试在超大规模集成电路的设计和制造中的重要性日益增长。在VLSI测试中采用的扫描结构可提高电路内部节点的的可控制性和可观测性，在已在VLSI内部和外部测试中得到大量应用，并已成功应用于当前流行的可测试性设计方法之中。因此，扫描测试中的低功耗方法研究有着重要的理论意义和实用价值。本文对扫描测试中的静态功耗、动态功耗、测试向量、扫描链、扫描单元和其他相关内容进行了研究，提出了多种降低测试功耗的方法，并使用一些工业界的大电路对这些方法进行了验证。主要工作和创新之处如下：(1)提出一种数字芯核并行测试外壳设计方法以降低测试功耗和测试时间。芯核的连接方式能够解决测试访问装置和内部扫描链之间的数据带宽匹配问题，但现有芯核串行外壳设计带来功耗和测试时间方面的浪费。我们结合测试向量无关位分布规律的研究。发现了扫描切片的重叠特性。并行测试外壳设计利用这一现象，通过对测试向量的适当划分与赋值，使测试时间减少和测试功耗降低。在ITC2002的d659电路上的实验结果表明低功耗测试-数控滚圆机电动滚圆机滚弧机价格低张家港倒角机多少钱本文有张家港市泰宇机械有限公司全自动滚圆机采集网络整理 http://www.gunyuanji.com